什麼是接物鏡？接物透鏡小知識

接物透鏡(objective，簡稱放大鏡物鏡)是顯微鏡最為顯微鏡重要的透鏡系統，放大的比率和影像的品質都由它來控制。大多數的顯微鏡都有三或四個接物透鏡，扭在鏡筒底部的轉盤下面。理想的情況是，如果啟用一枚新的接物鏡時，這接物鏡不但應該可以像以前的透鏡一樣，准確地安在與視野相關的位子上，而且要與正確的焦點相近。合乎這些條件的接物鏡，都被稱為合乎『共同焦點』(parfocal)和『共同中心』(parcentral)的接物鏡。

現今制造的接物鏡，都可以一種標准的螺紋安裝在顯微鏡上，使它們可以被從這架顯微鏡上移到另一架上à不論任何廠牌。但這種變換則意味望遠鏡著共天文望遠鏡同焦點和共同中心標准的失去。在同一個轉盤上同時使用種種不同廠牌的接物透鏡，要想求得金相顯微鏡一個完美的影像，幾乎是不可能的。

如何用顯微鏡給細小的物體計數？

計數懸液中細微顆粒(例如血球之類)的總數，需運用一種顯微鏡顯微鏡『計算盤』(counting chamber)計放大鏡算，這種計算盤是用一塊厚的顯望遠鏡微鏡載物玻片做成，上面天文望遠鏡刻有一種已知深度的凹槽，在上面加配賑姜糷@枚。這個凹槽的底部刻有一個已知容積的格子區域並放在鏡台上，對准焦點就可以看清楚。由此可以了解，這個計算盤格子區上的容積不難計算出來。

以含有小粒的懸液注滿計算盤的凹槽，讓其中的粒子下沉，之後將焦點對准格子區域，計數沉下的粒子數目。我們已知道凹槽裡面的液體容積，便可算出每一立方毫米或立方英吋液體之中所含的粒子之數。假設這種液體之中占有大量的顆粒—例如血球—我們就必須加以稀釋，直到在格子區域之中的分布情形便於計數。這樣在做最後的結算時，我們就必須將此稀釋的因數計算進去。

用這種技術計數，誤差相當大，所以需要相當標准化的方法，才可以在反覆重做時獲得金相顯微鏡相近的結果。

(『計算盤』也翻譯做『計算室』或『計算池』)

對比復式顯微鏡和解剖顯微鏡的原理及操作方式

(1)取干淨的載玻片一片
(2)滴一滴金相顯微鏡水(不要顯微鏡太多！)放大鏡
(3)梳梳頭發，在梳子上找一根望遠鏡掉發。
(4)將頭發放在水滴中央。
(5)蓋玻片以45°慢慢蓋上，避免產生太多氣泡，影響觀察。
(6)如果發現蓋玻片會浮動，就是水滴太多了，這時拿一張吸水紙靠在蓋玻片旁邊，將多余的水分吸掉。
(7)如果氣泡太多影響觀察，或者是水太少，可以在蓋玻片的一側滴一滴水，在天文望遠鏡另一側放吸水紙將水均勻的吸過去。
(8)做好的標本若要暫時保存，則可以用指甲油將蓋玻片的周圍封起來。

什麼是實體顯微鏡？實體顯微鏡小知識

實體或立體顯微鏡(the stere天文望遠鏡顯微鏡oscopic microscope)也可以叫做“體視顯微鏡”，是為了觀取立體影像而設計，基本上，是將二架低倍顯微鏡並置一處、彼此角度差異、以使所看得影像產生一種實體或立體效果。

這種解剖顯微鏡與一般顯微鏡不同，可使標本顯示直立的姿態，所顯現的任何動作也都不會有顛倒的現像。這類顯微鏡的景深之所以夠大，是因為它們大多使用低倍放大率，而且只有一個焦距操縱裝置可以使用放大鏡。這對解剖工作頗有幫助，只需偶爾調一下焦點就可以了。
解剖顯微鏡的基本結構包括鏡體，其中裝有幾組不同放大倍數的物鏡；鏡體的上端安裝著雙目鏡筒，其下端的密封金屬殼中安裝著五組稜鏡組，鏡體下面安裝著一個大物鏡，使目鏡、稜鏡、物鏡組成一個完整的光學系統。物體經物鏡作第一次放大後，由五角稜鏡使物像正轉，再經目鏡作第二次放大，使在目鏡中觀察到正立的物像。在鏡體架上還有粗調和微調手輪，用以調節焦距。雙目鏡筒上安裝著目鏡，目鏡上有目鏡調節圈，以調節兩眼的不同視力。
解剖顯微鏡的光路設計有兩種： The Greenough Concept和The Telescope Concept。在觀察物體時能產生正立的三維空間影像。立體感強，成像清晰和寬闊，又具有長工作距離，並是適用範圍非常廣泛的望遠鏡常規顯微鏡。操作方便、直觀、檢定效率高，適用於電子工業生產線金相顯微鏡的檢驗、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現的焊接缺陷(印刷錯位、塌邊等)的檢定、單板PC的檢定、真空熒光顯示屏VFD的檢定等等，配測量軟體可以測量各種數據。

什麼是接目鏡？接目透鏡小知識

顯微鏡的接目透鏡(eyepiece，簡稱目鏡)望遠鏡，顯微鏡用於檢視和放大接物透鏡所形成的影像。就一般的用途而言，有放大鏡二類目鏡à霍氏目鏡(the Huygenian eyepiece)和補償目鏡(the compensating eyepiece)，前者與普通的消差接物透鏡配合使用，後者則與高度消差接物透鏡配合使用。

光線從目鏡上端的透鏡出來時的交叉點，實際上是一個小小的光盤，名為『目點』(e天文望遠鏡yepoint)。這就是眼睛在檢物像時所處的地方。目點的大小和位置可因種不同而有所差別，其大小也因顯微鏡的放大程度而有金相顯微鏡所不同。戴眼鏡的人應該設法使用目點位置較高的目鏡，以便戴著眼鏡檢視顯微鏡中的物像。

光學測量中的幾何公差

a。 最小平方圓法
真圓度的取值為一放大鏡外接圓與一內切圓的半徑差，此二圓與以最小平方法求得之基准圓同心。
b。 最小顯微鏡區域中心法
真圓度的望遠鏡取值為二同心的天文望遠鏡外接圓與內切圓的最小半徑差，最小區域中心法的基准圓為在二圓中間且到二圓等距離的同心之圓。
c。 最大內切圓法
真圓度的取值為與最大內切圓同心之外接圓的半徑差，此法之基准圓為最大內切圓。
d。 最小外接圓法
真圓度的金相顯微鏡取值為與最小外接圓同心之內切圓的半徑差，此法之基准圓為最小外接圓。

表面粗糙度及測量方法

a。 表面粗度(Surface Rough顯微鏡ness)
在某一定長度內(一般在儀器上都已經設置好)計算其表面高點與低點之算術平均值來表示。

b。 斷面曲線與粗糙度曲線
通常加工是由一連續不規則高度、間隔和傾斜面形成的，假若使用電動式檢出器偵測器測量此加工表面粗放大鏡糙度時，為消除所謂波紋成份望遠鏡，通常是使用電子高頻濾波器﹝ treble-filter﹞消除斷面曲面長之波紋成份(只截取短波長部份)。因此，觸針前端所繪制的波紋曲線(稱為斷天文望遠鏡面曲線)與通過放大器或濾波器而繪制之曲線是不相同的。後者是代表粗糙度的曲線，故稱為粗糙度曲線。而此粗糙度曲線的形狀常因截取值的選取方法有不金相顯微鏡同形狀。
簡言之，所謂粗糙度曲線是經過波長成份篩選後的波紋形狀。但實際上，真正表面的斷面形狀是由無限個曲率半徑很小的檢出器在表面緩慢移動之上下移動波形。但是若再進一步嚴格的說，檢出器移動的實際形狀並非是表面凹凸不平的斷面圖形，特別是測量具有些微凹凸不平的測量物時，差異更為顯著。由於，理想斷面形狀是無法測量的，因此必須依照一定的基准方法，由檢出器的上下移動繪制斷面曲線才是一種比較可行的方法。

c。 基准長度
由斷面曲線求最大高度或者十測量點平均粗糙度，是先截取斷面曲線上某一固定長度，此截取的長度就稱為基准長度。通常由具有相同節距之規則曲折表面選取基准長度是不會影響粗糙度測量值，但是對經過研磨等不規則波紋之表面，其標准長度越長則測得之表面粗糙度的測量值也越大。