表面粗糙度及測量方法

a。 表面粗度(Surface Rough顯微鏡ness)
在某一定長度內(一般在儀器上都已經設置好)計算其表面高點與低點之算術平均值來表示。

b。 斷面曲線與粗糙度曲線
通常加工是由一連續不規則高度、間隔和傾斜面形成的，假若使用電動式檢出器偵測器測量此加工表面粗放大鏡糙度時，為消除所謂波紋成份望遠鏡，通常是使用電子高頻濾波器﹝ treble-filter﹞消除斷面曲面長之波紋成份(只截取短波長部份)。因此，觸針前端所繪制的波紋曲線(稱為斷天文望遠鏡面曲線)與通過放大器或濾波器而繪制之曲線是不相同的。後者是代表粗糙度的曲線，故稱為粗糙度曲線。而此粗糙度曲線的形狀常因截取值的選取方法有不金相顯微鏡同形狀。
簡言之，所謂粗糙度曲線是經過波長成份篩選後的波紋形狀。但實際上，真正表面的斷面形狀是由無限個曲率半徑很小的檢出器在表面緩慢移動之上下移動波形。但是若再進一步嚴格的說，檢出器移動的實際形狀並非是表面凹凸不平的斷面圖形，特別是測量具有些微凹凸不平的測量物時，差異更為顯著。由於，理想斷面形狀是無法測量的，因此必須依照一定的基准方法，由檢出器的上下移動繪制斷面曲線才是一種比較可行的方法。

c。 基准長度
由斷面曲線求最大高度或者十測量點平均粗糙度，是先截取斷面曲線上某一固定長度，此截取的長度就稱為基准長度。通常由具有相同節距之規則曲折表面選取基准長度是不會影響粗糙度測量值，但是對經過研磨等不規則波紋之表面，其標准長度越長則測得之表面粗糙度的測量值也越大。